Mikroskopie atomárních sil (Atomic Force Microscopy – AFM) je důležitá mikroskopická technika umožňující mapování povrchu na atomární úrovni. Metoda je založena na sledování interakce povrchu vzorku s velmi tenkým hrotem. Následující video ukazuje základní princip měření.
Continue reading „Nanoscale Research Using AFM & Techniques:Principles of AFM imaging modes“Štítek: AFM
Documentoscopy by atomic force microscopy (AFM) coupled with Raman microspectroscopy: applications in banknote and driver license analyses
V současné době je díky velmi pokročilé miniaturizaci dostupná celá řada tzv. couplingů, tzn. že spojíme dvě nebo i více analytických metod a jeden vzorek dokážeme analyzovat více způsoby. Výhodou tohoto přístupu je minimalizace spotřeby vzorku a zrychlení analýzy, někdy to ale může vést ke snížení citlivost nebo rozlišení použitých metod. Běžné jsou couplingy např. GC/MS, TG/IR, TG/MS, TG/DSC, … V nejnovějším čísle časopisu Analytical Methods vyšel článek o využití spojení Ramanovy mikroskopie a AFM pro analýzu bankovek a řidičských průkazů.
Continue reading „Documentoscopy by atomic force microscopy (AFM) coupled with Raman microspectroscopy: applications in banknote and driver license analyses“